Si결정에서의 격자결함의 특성 및 고분해능 투과전자현미경에 의한 격자상
- 저자
- 조경익, 권오준, 강상원 / 물성분석실
- 권호
- 4권 4호 (통권 14)
- 논문구분
- 일반 논문
- 페이지
- 98-0
- 발행일자
- 1989.12.15
- DOI
- 10.22648/ETRI.1989.J.040408
- 초록
- 실제의 결정은 이상적인 결정과는 달리 결함(imperfection or defect)들을 포함하고 있다. 본고에서는 이들 여러가지 결함들 중 격자 결함들에 국한해서, 그 기본적인 특성과 Si 격자에서의 이들 결함들의 구조를 살펴보고, 이것들을 고분해능 전자현미경(High Resolution Transmission Electron Microscopy ; HRTEM or HREM)으로 관찰했을 때, HRTEM의 탈초점 (defocus)에 따른 결함 상(image)의 성질의 변화와 함께 상 특성과 격자구조와의 관계를 살펴보았다.
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