시험 가이드라인을 결정하기 위한 정량적인 결함 분석 사례 연구

Quantitative Analysis of Development Defects to Guide Testing

저자
이재기, 신상권, 남상식, 박권철
권호
18권 2호 (통권 80)
논문구분
일반 논문
페이지
99-0
발행일자
2003.04.15
DOI
10.22648/ETRI.2003.J.180210
초록
검출된 소프트웨어의 결함에 대한 분석은 소프트웨어의 품질을 향상시키기 위한 여러 활동에 많은 도움을 주고 있다. 특히 개발중인 소프트웨어 컴포넌트들에 대한 검출된 결함 분석은 개발기간에 소프트웨어 내에 숨어있는 결함(latent defect)에 초점이 맞추어져 시험에 많은 도움을 주고 있다. 본 논문은 대형 교환 소프트웨어로부터 시험에서 검출된 결함 데이터를 이용하여 소프트웨어의 특성을 조사, 분석하여 이를 시험에 활용하고 시험의 효율성과 시험효과에 대한 가이드 라인을 제안한다.
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